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单模光纤损耗实验的研究

时间:2022-03-17 11:22:35  浏览次数:

【摘 要】本文提出了一套以半导体激光器为光源的低成本、结构简单的测量光纤损耗的教学用实验方案,为光纤光学的大面积实验教学的开展提供了思路。

【关键词】大规模实验教学;半导体激光器;光纤;损耗

0 引言

光纤光学及导波光学是目前光学研究的热点之一[2],1964年前香港中文大学校长高锟就因提出在电话网络中以光代替电流,以玻璃纤维代替导线的设想获得2009年诺贝尔物理学奖。随着技术的发展,光纤已经深入到通信、医疗、传感等各个领域,国内部分高校也较早的开展了相关的实验课程。但由于当时光纤及光源等技术条件的限制,难以在全国范围内开展大面积的实验教学。随着目前光纤制造业的飞速发展以及第三代激光技术的广泛应用,已经为光纤光学实验课程的大面积开展铺平了道路。本文以半导体激光器作为光源,提供了一套测量光纤耦合效率及传输损耗率的实验方案

1 实验原理

1.1 光纤的结构

如图1所示,光纤通常由纤芯、包层、涂敷层、护套组成,其中纤芯的折射率略高于包层,当满足全反射条件时,光束便被包层限定在波导管内传播[1]。

1.2 光纤的损耗

2 实验方案

为得到单色光,早先的测量光纤损耗率的实验大多采取卤光灯加单色仪作为光源,其装置图3所示:

(a)剪断前

(b)剪断后

该装置由于当时的工艺水品和成本的限制,有两个缺陷:第一,卤光灯经过单色仪滤光后,其单色亮度已经很弱了,这样的小信号对探测器的要求很高,要求他侧气必须有极低的响应阈值。第二,由于自然光的发散角极大,就加重了耦合时聚焦系统的负担,使得聚焦系统操作更复杂,因而使得部分高校只能以演示实验的形式开展该实验,令很多同学失去了自己动手的机会。

当然,也有直接采用国际电报电话咨询委员会(CCIT)的剪断法的方案。在图2中我们不难发现半导体激光光源被直接熔接在光纤端面,使得整套系统结构及其简单可靠,便于大规模的在实际生产中运用。但由于截断在熔接过程中需要使用光纤熔接机等昂贵设备,便使得大面积教学又遇到了新的瓶颈。

传统的“剪断法”是测量光纤损耗/衰减的经典方法。如图2表示典型的剪断法测量步骤:(a)利用熔接机将被测光纤输入端与一端带有PC接头(PC)的引导光纤熔接,连接到稳定光源(S-LD)的FC/PC输出端。借助对准装置(AT)调整光纤输出端的位置,精确对准功率计PM的光电接收器。在PM上测得PL2。(b)剪断被测光纤,余下2m,用AT重新调整2m光纤输出端对准PM的接收器的同一位置,测得PL1。从(1)式即可计算被测光纤损耗A。

出于简化结构、降低成本和提高试验系统可操作性的考虑,本系统借助于新的半导体光源,用显微物镜作为聚焦系统。同时为了让同学更好的了解光纤结构,以及熟悉常见的光纤端面的处理方法,该实验方案选用长飞公司生产的G652b标准单模石英光纤。其装置如图6所示。

3 光纤耦合及损耗率的测量

3.1 处理光纤端面

由于光纤端面的平整度直接影响耦合效率,因而在进行实验之前首先要对光纤端面进行处理。

如图4 所示,未处理的光纤端面是不平整的,我们首先用光纤钳剥掉涂敷层,然后用宝石刀切一道平整的端面。然后用显微镜观察端面的平整度,如果光纤端面不平整,则重复以上步骤,直至获得平整光滑的光纤端面。

3.2 光纤的耦合

在利用光纤耦合器进行几何对准时我们要特别注意横向偏移误差、纵向偏移误差和角度误差。

3.3 损耗测量

如图6所示链接光路并测量光纤尾端出射的(图6中②处)的相对强度IR2,然后从光纤入纤方向2m处(图6中①处)剪断光纤,处理端面后测量其相对强度IR1,然后带入公式(3)便可求出光纤的损耗率。

本实验采用的是波长为551nm红光的半导体激光器,光纤初始长度为4.036km,测量时需要记录每次剪断光纤的长度,同时应注意尽量避免探测器正对着激光器出射的方向。

5 结语

由于大规模实验教学的需求,所以本方案不得不考虑成本及可靠性等因素,因而在相当程度上牺牲掉了实验精度。但是通过对光纤端面的处理及观察,令同学们有机会感性的了解光纤的结构;通过耦合系统的操作,令同学们掌握了光学调节的一般规律;通过损耗率的计算;令同学了解了计算损耗的一般方法。其中,单模石英光纤端面的处理,以及耦合是操作上的难点,在面对非光学专业的同学进行实验教学时,为减小操作难度和操作时间,可改用大芯径塑料多模光纤。

【参考文献】

[1]廖延彪.光纤光学:原理与应用[M].北京:清华大学出版社,2010:15-36.

[2]王健.导波光学[M].北京:清华大学出版社,2010:3-5.

[责任编辑:曹明明]

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